雙探針法測量薄膜厚度的原理


雙探針法測量薄膜厚度的原理

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【雙探針法測量薄膜厚度的原理】雙探針法測量薄膜厚度的原理是直流電流在樣品表面流過時,根據歐姆定律,電流的大小與樣品電阻的大小成反比 。雙探針法利用了電阻的三要素:電阻率、導體長度、導體截面積 。